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Beschreibung dieses Mikroskopteils.

Polarisationsmikroskope

Lomo Mikroskop-Kompensationsschieber:
Werksbezeichnung: СЛ1/4λ
Kristallmaterial: Glimmer
Optische Verzögerung: 1/4 lambda (ca. 140 nm)
Ausrichtung der optischen Achsen: diagonal, 45 Grad zur Gehäusekante

Abmessungen:
Gesamtlänge: 80 mm
Einstecklänge: 60 mm
Breite: 19 mm
Höhe: 7,5 mm

Viertelwellen-Kompensationsschieber (Lambda-Viertel-Plättchen), der eine Phasenverschiebung von 1/4 Wellenlänge einführt. Verwendet zur Standard-Kompensation, Bestimmung des optischen Charakters von Mineralien sowie zur Analyse elliptisch polarisierten Lichts.

Die Achsen des schnellen Strahls (Np) und des langsamen Strahls (Ng) sind in einem Winkel von 45 Grad zur Längsachse des Schiebers ausgerichtet. Dies ist die Standardkonfiguration für die grosse Mehrheit der klassischen Polarisationsmikroskope, bei denen der Zubehörschlitz parallel zum Stativarm verläuft und die Schwingungsachsen des Kristalls genau auf die Diagonale der Polarisator- und Analysatorrichtungen treffen müssen.

Es ist auch eine zweite Variante dieses Schiebers erhältlich - vom Typ Sénarmont, bezeichnet mit dem Kürzel CP-QS (Compensating Plate, Quarter-wave Sénarmont). In der Sénarmont-Konfiguration verläuft die Kristallachse (Ng) parallel zur Schwingungsrichtung des Polarisators, und der 45-Grad-Effekt wird durch den Zubehörschlitz des Mikroskops erzwungen - nicht durch die Ausrichtung des Kristalls im Gehäuse. Die Sénarmont-Variante ist für spezielle LOMO-Mikroskopköpfe mit einem um 45 Grad gedrehten Zubehörschlitz sowie für präzise quantitative Messungen der optischen Verzögerung in Kombination mit einem drehbaren Analysator und einem Interferenzfilter (üblicherweise 546 nm oder 551 nm) vorgesehen. Bitte prüfen Sie vor dem Kauf die Konstruktion Ihres Mikroskops. Die Verwendung der falschen Variante führt dazu, dass die Kristallachsen nicht mit der Schwingungsrichtung des polarisierten Lichts übereinstimmen - dies verhindert die korrekte Hintergrundauslöschung sowie präzise Messungen und konoskopische Beobachtungen.

Beschreibung dieses Mikroskopteils.

Polarisationsmikroskope

Lomo Mikroskop-Kompensationsschieber:
Werksbezeichnung: СЛ1/4λ (Schreibweise mit lateinischen Buchstaben: SL1/4lambda)
Alternativbezeichnung: Sénarmont, CP-QS (Compensating Plate, Quarter-wave Sénarmont)
Kristallmaterial: Glimmer
Optische Verzögerung: 1/4 lambda (ca. 140 nm)
Ausrichtung der optischen Achsen: senkrecht und parallel zur Gehäusekante

Abmessungen:
Gesamtlänge: 80 mm
Einstecklänge: 60 mm
Breite: 19 mm
Höhe: 7,5 mm

Viertelwellen-Kompensationsschieber vom Typ Sénarmont (Sénarmont-Lambda-Viertel-Plättchen) mit einer Phasenverschiebung von 1/4 Wellenlänge. Im Unterschied zur Standard-Viertelwellenplatte verläuft in der Sénarmont-Konfiguration die Kristallachse (Ng) parallel zur Schwingungsrichtung des Polarisators, und der 45-Grad-Effekt wird durch den Zubehörschlitz des Mikroskops erzwungen - nicht durch die Ausrichtung des Kristalls im Gehäuse. Verwendet für präzise quantitative Messungen der optischen Verzögerung, Bestimmung des optischen Charakters von Mineralien sowie zur Analyse elliptisch polarisierten Lichts - in Kombination mit einem drehbaren Analysator und einem Interferenzfilter (üblicherweise 546 nm oder 551 nm).

Die Achsen des schnellen Strahls (Np) und des langsamen Strahls (Ng) sind parallel und senkrecht zu den Kanten des Schiebergehäuses ausgerichtet. Diese Anordnung wird bei speziellen LOMO-Mikroskopköpfen oder bei einer um 45 Grad gedrehten Ausrichtung der Polarisatoren verwendet, um den korrekten Interferenzeffekt zu erzielen.

Es ist auch eine erste Variante dieses Schiebers erhältlich - Standard-Viertelwellenplättchen СЛ1/4λ (Schreibweise mit lateinischen Buchstaben: SL1/4lambda) mit diagonaler Achse (45 Grad), geeignet für die grosse Mehrheit der klassischen Polarisationsmikroskope mit standardisiertem Zubehörschlitz. Bitte prüfen Sie vor dem Kauf die Konstruktion Ihres Mikroskops. Die Verwendung der falschen Variante führt dazu, dass die Kristallachsen nicht mit der Schwingungsrichtung des polarisierten Lichts übereinstimmen - dies verhindert die korrekte Hintergrundauslöschung sowie präzise Messungen und konoskopische Beobachtungen.

Beschreibung dieses Mikroskopteils.

Werksbezeichnung: КВ.КР.1 (Schreibweise mit lateinischen Buchstaben: KV.KR.1)
Kristallmaterial: Quarz
Optische Verzögerung: 1 lambda (ca. 550 nm)
Ausrichtung der optischen Achsen: senkrecht und parallel zur Gehäusekante

Abmessungen:
Gesamtlänge: 80 mm
Einstecklänge: 60 mm
Breite: 19 mm
Höhe: 7,5 mm

Ganzwellen-Kompensationsschieber (Gipsplättchen / Rot-I-Plättchen) mit einer Phasenverschiebung von einer vollen Wellenlänge. Erzeugt die empfindliche Interferenzfarbe - das purpurrote Rot der ersten Ordnung - auf deren Hintergrund selbst minimale Änderungen der Doppelbrechung des untersuchten Präparats deutlich sichtbar werden, als Übergang in Blau- oder Gelbtöne. Verwendet zur Identifizierung schwach doppelbrechender Mineralien sowie zur Bestimmung des Längszeichens von Kristallen.

Beschreibung dieses Mikroskopteils.

ber:
Werksbezeichnung: keine feste Bezeichnung (variable Verzögerung)
Kristallmaterial: Quarz
Optische Verzögerung: kontinuierlich variabel, von der I. bis zur IV. Ordnung des Interferenzspektrums
Ausrichtung der optischen Achsen: entlang der Einschubrichtung (Verzögerung nimmt mit der Einschubtiefe zu)

Abmessungen:
Gesamtlänge: 115 mm
Einstecklänge: 78 mm
Breite: 19 mm
Höhe: 7,5 mm

Kompensationsschieber in Form eines Quarzkeils mit variabler, ansteigender optischer Verzögerung. Ermöglicht eine präzise, stufenlose Anpassung des Kompensationswerts durch Verschieben des Keils im Zubehörschlitz des Mikroskops. Verwendet zur genauen Bestimmung der Interferenzfarben-Ordnung beobachteter Präparate sowie zur präzisen Messung der Doppelbrechung von Kristallen.