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Beschreibung dieses Mikroskopteils.

Kunststoffaufsatz - es handelt sich um eine solide gefertigte Konstruktion von Olympus Japan, die auf dem Gebrauchtmarkt für Mikroskope sehr gesucht ist.

Hinweis - wenn der Abstand der Befestigungsbohrungen passt, kann dieser Aufsatz auch auf Kreuztischen anderer Hersteller montiert werden.

Hinweis - Olympus stellte Präparathalter sowohl mit festen Halteklammern als auch mit Modellen mit federnder Klammer her. Hier zeige und biete ich die Version mit Feder an.

Auf den Fotos in der Galerie sind die genauen Abmessungen des hier beschriebenen und angebotenen Elements zu sehen.

Beschreibung dieses Mikroskopteils.

2 Mikroskope mit Auflichtilluminator.

Olympus BH2-NAN-2 Analysatorschieber:
Schiebertyp: drehbarer Polarisationsanalysator
Drehung: der Analysator dreht sich im Bereich von 0-45 Grad
Beschriftung auf dem Schieber: Olympus BH2-NAN-2
Modell im Herstellerkatalog: BH2NAN2
Abmessungen: Breite 45 mm, Dicke: 7,5 mm, Gesamtlänge: 68,5 mm, Länge des eingeschobenen Teils: 48,5 mm
Verwendung: für den EPI-Auflichtilluminator

Olympus Polarisatorschieber:
Schiebertyp: drehbarer Polarisator
Drehung: der Polarisator dreht sich im Bereich von 0-360 Grad
Beschriftung auf dem Schieber: keine
Modell im Herstellerkatalog: nicht bekannt
Leerposition: ja - der Polarisator hat zwei Positionen, eine mit dem Polarisationsfilter und eine leere
Abmessungen: Breite 45 mm, Dicke: 6 mm, Gesamtlänge: 85 mm
Verwendung: für den EPI-Auflichtilluminator
Anmerkungen: die fehlende Beschriftung auf dem Schieber deutet darauf hin, dass es sich nicht um einen herausziehbaren Schieber handelt, sondern dass er fest im EPI-Auflichtilluminator eingebaut ist - er lässt sich jedoch zwischen der Leerposition und der Polarisatorposition verschieben

Wenn Sie diesen Schieber an einem anderen Mikroskop verwenden möchten - prüfen Sie die Form und genau die auf den Fotos sichtbaren Abmessungen.

Achtung - in der allgemein üblichen Bezeichnungspraxis herrscht eine leichte Unordnung, und es werden häufig fremde, auch falsche Bezeichnungen verwendet. Der häufigste Fehler besteht darin, dass der Analysator als Polarisator bezeichnet wird - und leider ist dieser Fehler so verbreitet, dass man ihn berücksichtigen muss. Hier Beispiele der verwendeten Bezeichnungen:
- polaryzator
- polarisator
- polarizer
- polariser
- filtr polaryzacyjny
- filtr POL
- circular polariser
- CPL Filter
- POL filter
- polarisations Filter
- polarization Filter
- analizator
- analisaor
- Analysator
- POL analizer
- polarization analyser

Leider kenne ich das Modell des EPI-Auflichtilluminators nicht, zu dem diese Schieber passen. Zum Glück hat der geschätzte Herr Thomas Woitzik auf den Seiten seines großartigen Online-Shops Fotos eines Olympus BH2 BHS Mikroskops mit genau dieser EPI-Ausstattung: https://www.mikroskop-online.de/mikroskope/verkauf/gebrauchte-mikroskope/auflichtmikroskope/olympus-bh2-mit-auflicht-hellfeld-auflichtpolarisation-photoausgang-und-durchlichtmoeglichkeit/

Beschreibung dieses Mikroskopteils.

technische Daten des Prismas:
Hersteller: Olympus (Japan)
Bezeichnung: 10 Olympus
Seriennummer: 201738
Unterstütztes Objektiv: Olympus MSPlan 10 0,30 ∞/- f=180 (Katalognummer des Herstellers: 1-LM530)
Außengewinde: RMS
Innengewinde: RMS
Kontrastverfahren: Nomarski-Interferenzkontrast (Abkürzung: NIC)
Beleuchtung: erforderlich ist ein kompatibler Auflicht-Illuminator (EPI)

Das Prisma sitzt in einem entsprechend geformten Metallgehäuse. Auf der einen Seite befindet sich ein Außengewinde, auf der anderen ein Innengewinde. Mechanisch wird das Prisma mit dem Außengewinde in den Objektivrevolver geschraubt - in das Innengewinde wird das Olympus MSPlan 10 0,30 ∞/- f=180 Objektiv eingeschraubt.

Dieses Prisma ist für Beobachtungen im Auflicht mit der DIC-Technik unerlässlich. Durch diese Technik erscheinen die Details der beobachteten Oberfläche plastisch und reliefartig, sodass Details sichtbar werden, die im klassischen Auflicht-Hellfeld unsichtbar bleiben.

Beschreibung dieses Mikroskopteils.

Grundlegende technische Daten des Prismas:
Hersteller: Olympus (Japan)
Bezeichnung: 100 Olympus
Seriennummer: 201532
Unterstütztes Objektiv: Olympus MSPlan 100 0,95 ∞/0 f=180 (Katalognummer des Herstellers: 1-LM544)
Außengewinde: RMS
Innengewinde: RMS
Kontrastverfahren: Nomarski-Interferenzkontrast (Abkürzung: NIC)
Beleuchtung: erforderlich ist ein kompatibler Auflicht-Illuminator (EPI)

Das Prisma sitzt in einem entsprechend geformten Metallgehäuse. Auf der einen Seite befindet sich ein Außengewinde, auf der anderen ein Innengewinde. Mechanisch wird das Prisma mit dem Außengewinde in den Objektivrevolver geschraubt - in das Innengewinde wird das Olympus MSPlan 100 0,95 ∞/0 f=180 Objektiv eingeschraubt.

Dieses Prisma ist für Beobachtungen im Auflicht mit der DIC-Technik unerlässlich. Durch diese Technik erscheinen die Details der beobachteten Oberfläche plastisch und reliefartig, sodass Details sichtbar werden, die im klassischen Auflicht-Hellfeld unsichtbar bleiben.

Beschreibung dieses Mikroskopteils.

Grundlegende technische Daten des Prismas:
Hersteller: Olympus (Japan)
Bezeichnung: Neo 5 Olympus
Seriennummer: 200412
Unterstütztes Objektiv: Olympus NeoSPlan 5 0,13 ∞/- f=180 (Katalognummer des Herstellers: 1-LM420) und Olympus NeoSPlan 5 NIC 0,13 ∞/- f=180 (Katalognummer des Herstellers: 1-LM424)
Außengewinde: M26
Innengewinde: M26
Kontrastverfahren: Nomarski-Interferenzkontrast (Abkürzung: NIC)
Beleuchtung: erforderlich ist ein kompatibler Auflicht-Illuminator (EPI)

Das Prisma sitzt in einem entsprechend geformten Metallgehäuse. Auf der einen Seite befindet sich ein Außengewinde, auf der anderen ein Innengewinde. Mechanisch wird das Prisma mit dem Außengewinde in den Objektivrevolver geschraubt - in das Innengewinde wird das Olympus NeoSPlan 5 0,13 ∞/- f=180 Objektiv eingeschraubt.

Dieses Prisma ist für Beobachtungen im Auflicht mit der DIC-Technik unerlässlich. Durch diese Technik erscheinen die Details der beobachteten Oberfläche plastisch und reliefartig, sodass Details sichtbar werden, die im klassischen Auflicht-Hellfeld unsichtbar bleiben.

Beschreibung dieses Mikroskopteils.

Grundlegende technische Daten des Prismas:
Hersteller: Olympus (Japan)
Bezeichnung: Neo 10 Olympus
Seriennummer: 200463
Unterstützte Objektive: Olympus NeoSPlan 10 0,30 ∞/0 f=180 (Katalognummer des Herstellers: 1-LM430) sowie Olympus NeoSPlan 10 NIC 0,30 ∞/0 f=180 (Katalognummer des Herstellers: 1-LM434)
Außengewinde: M26
Innengewinde: M26
Kontrastverfahren: Nomarski-Interferenzkontrast (Abkürzung: NIC)
Beleuchtung: erforderlich ist ein kompatibler Auflicht-Illuminator (EPI)

Das Prisma sitzt in einem entsprechend geformten Metallgehäuse. Auf der einen Seite befindet sich ein Außengewinde, auf der anderen ein Innengewinde. Mechanisch wird das Prisma mit dem Außengewinde in den Objektivrevolver geschraubt - in das Innengewinde wird das Olympus Neo SPlan 10 0,30 ∞/0 f=180 Objektiv eingeschraubt.

Dieses Prisma ist für Beobachtungen im Auflicht mit der DIC-Technik unerlässlich. Durch diese Technik erscheinen die Details der beobachteten Oberfläche plastisch und reliefartig, sodass Details sichtbar werden, die im klassischen Auflicht-Hellfeld unsichtbar bleiben.

Beschreibung dieses Mikroskopteils.

Grundlegende technische Daten des Prismas:
Hersteller: Olympus (Japan)
Bezeichnung: Neo 20 Olympus
Seriennummer: 200318
Unterstützte Objektive: Olympus NeoSPlan 20 0,46 ∞/0 f=180 (Katalognummer des Herstellers: 1-LM440) sowie Olympus NeoSPlan 20 NIC 0,46 ∞/0 f=180 (Katalognummer des Herstellers: 1-LM444)
Außengewinde: M26
Innengewinde: M26
Kontrastverfahren: Nomarski-Interferenzkontrast (Abkürzung: NIC)
Beleuchtung: erforderlich ist ein kompatibler Auflicht-Illuminator (EPI)

Das Prisma sitzt in einem entsprechend geformten Metallgehäuse. Auf der einen Seite befindet sich ein Außengewinde, auf der anderen ein Innengewinde. Mechanisch wird das Prisma mit dem Außengewinde in den Objektivrevolver geschraubt - in das Innengewinde wird das Olympus Neo SPlan 20 0,46 ∞/0 f=180 Objektiv eingeschraubt.

Dieses Prisma ist für Beobachtungen im Auflicht mit der DIC-Technik unerlässlich. Durch diese Technik erscheinen die Details der beobachteten Oberfläche plastisch und reliefartig, sodass Details sichtbar werden, die im klassischen Auflicht-Hellfeld unsichtbar bleiben.